🎛️ Bancada Virtual de Fotônica Integrada (Slab TE / TM)
Ajuste a espessura do núcleo $2d$, os índices $n_1$ e $n_2$, o comprimento de onda $\lambda_0$ e alterne entre as polarizações TE e TM para inspecionar os perfis transversais de campo e o fator de confinamento $\Gamma$.
Parâmetros do Guia Planar
| Modo | Índice $n_{\text{eff}}$ | $\beta$ | Confinamento $\Gamma$ | Penetração ($1/\gamma$) | Estado |
|---|
Guia de Laboratório: Guiamento em Lâminas Dielétricas e Fotônica
Experimentos virtuais dedicados ao estudo de reflexão interna total frustrada, caudas evanescentes e confinamento óptico em circuitos integrados fotônicos (PICs).
🔬 Experimento 1: Guia SOI Padrão Industrial ($220\text{ nm}$) em $\lambda_0 = 1550\text{ nm}$
Objetivo: Caracterizar o confinamento óptico extremo na plataforma padrão da indústria de semicondutores (Silicon-on-Insulator) com contraste gigante de índices ($\Delta n \approx 2{,}03$).
Procedimento Passo a Passo:
- No seletor de tecnologia fotônica, selecione Fotônica em Silício (SOI Strip - 220 nm) com polarização TE.
- Observe o índice de refração do silício $n_1 = 3{,}476$ e da casca de sílica ($\text{SiO}_2$) $n_2 = 1{,}444$.
- Verifique que o índice efetivo resultante do modo fundamental $\text{TE}_0$ é $n_{\text{eff}} \approx 2{,}835$, satisfazendo com folga a condição de guiamento $n_2 < n_{\text{eff}} < n_1$.
- Observe o fator de confinamento no núcleo: $\Gamma \approx 83{,}6\%$. Apenas $16{,}4\%$ da energia óptica viaja na casca como cauda evanescente com penetração característica de $\approx 100\text{ nm}$.
🔬 Experimento 2: Birefringência Geométrica: Comparação TE vs. TM
Objetivo: Compreender a assimetria na equação transcendental de dispersão entre polarizações paralela e perpendicular.
Procedimento Passo a Passo:
- Com o guia SOI de $220\text{ nm}$, clique no botão Polarização TM (Campo Hy).
- Observe que o índice efetivo cai drasticamente para $n_{\text{eff}} \approx 1{,}80$, e o confinamento $\Gamma$ cai para $\approx 55\%$.
- Explicação Física: A componente normal do deslocamento elétrico $D_x = \epsilon E_x$ é contínua na interface, o que força um salto de descontinuidade no campo elétrico $E_x(x)$: $$E_{\text{casca}} = \frac{n_1^2}{n_2^2} E_{\text{núcleo}} \approx \left(\frac{3{,}476}{1{,}444}\right)^2 E_{\text{núcleo}} \approx 5{,}8 \times E_{\text{núcleo}}$$
- Esse salto ejeta proporcionalmente mais energia para fora do núcleo de silício, tornando os modos TM muito mais sensíveis a perturbações no meio exterior (ideal para biossensores ópticos).
🔬 Experimento 3: Plataforma de Nitreto de Silício ($\text{Si}_3\text{N}_4$) para Média Potência
Objetivo: Avaliar as propriedades do nitreto de silício, plataforma que evita a absorção não linear de dois fótons (TPA).
Procedimento Passo a Passo:
- Selecione o preset Nitreto de Silício (Si3N4 - 800 nm) ($n_1 = 1{,}980, n_2 = 1{,}444$).
- Como o contraste de índices é moderado ($\Delta n \approx 0{,}536$), o núcleo precisa ser mais espesso ($800\text{ nm}$) para confinar o modo óptico com eficiência similar à do silício.
- Observe a forma mais expandida do perfil de campo $E(x)$, proporcionando acoplamento com menores perdas a fibras ópticas monomodo externas.
Relações de Dispersão Exatas em Guias Dielétricos Planares
Em uma lâmina dielétrica simétrica de espessura $2d$ (núcleo com índice $n_1$ e cascas infinitas com $n_2$), as componentes de campo nos modos guiados satisfazem as equações de onda de Helmholtz. Definindo os parâmetros normalizados $u$ (núcleo) e $w$ (casca):
A continuidade das componentes tangenciais de campo na interface $x = \pm d$ impõe as relações transcendentais:
Referências Bibliográficas Verificadas
- MARCUSE, Dietrich. Theory of Dielectric Optical Waveguides. 2ª Edição. Boston, MA: Academic Press, 1991. Capítulo 1: The Asymmetric Slab Waveguide, pp. 1–59.
- OKAMOTO, Katsunari. Fundamentals of Optical Waveguides. 2ª Edição. Academic Press / Elsevier, 2006. Capítulo 1: Wave Optics and Planar Waveguides, pp. 1–56.
- REED, Graham T.; KNIGHTS, Andrew P. Silicon Photonics: An Introduction. John Wiley & Sons, 2004. ISBN: 978-0470870341.
- CHRESTIENSEN, J. M.; SELLERI, S. Integrated Photonics. Springer, 2012.
- SEGATTO, Marcelo Eduardo Vieira. Notas de Aula de Fotônica Integrada: Análise e Simulação de Guias Planares em Silício. DEE/UFES & IN-FOTON, 2026.